供应商:VTI公司

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        Test for I-DEAS是世界上最早的大型商用结构动态测试分析软件包,在之前被广泛称之为I-DEAS Test或I-DEAS Pro。Test for I-DEAS最初由世界知名的SDRC(Structural DynamicResearch Corporation)公司开发,SDRC公司是世界领先的机械设计自动化(MDA)和产品数据管理(PDM)系统及工程服务公司,是CAD/CAM/CAE/CAT/PDM等领域的业界技术先驱。SDRC公司的I-DEAS产品及Metaphase产品现在属于西门子PLM业务部门。Test for I-DEAS现由Maya HTT公司拥有并进行持续的开发,并由VTI Instruments公司进行市场、销售及技术支持。
        SDRC公司的人员及技术最早来源于美国辛辛那提大学结构动力实验室(Structural Dynamics Research Lab),是为满足美国汽车行业以及航空航天领域的振动、噪声和结构模态方面的需求而开发的,后期又将产品线扩展到CAD、CAM及PDM。TEST for I-DEAS在美国的汽车行业及航空航天领域占据有垄断性优势,知名的大用户包括波音公司、福特汽车公司、洛马公司等。
        经过大幅升级的Test for I-DEAS,是一款功能强大、综合性的软件套件,借助Test for I-DEAS,工程师能对噪声和振动领域最复杂的测试数据进行分析和处理,并有能力迎接NVH领域遇到的最新挑战和革新。该款软件套件通过扩展,可与VTI公司最新开发的用于NVH测试的EMX-43XX,EMX-42XX和EMX-1434(PXIe 高速DSA产品)进行无缝集成。支持EMX-2500控制器,系统可通过以太网进行通讯,并且提供了无与伦比的配置灵活性(数据采集系统可分布在距离被测对象足够近的地方)。通过IEEE-1588协议,分布式测量系统可进行同步数据采集。
        Test for I-DEAS的独特设计,支持几乎所有NVH分析和测试原理,单个软件集成了有限元结果显示、模型验证测试结果的前后处理和直接的测量能力。使用者能在同一个软件中查看数学模型结果、优化缩减的测试模型并采集测试数据,从而用更少的时间获得更好的测试结果。
Test for I-DEAS软件套件为模块化设计,每种套件包括针对不同类型噪声和振动测试场合的模块。随着需求的增加,模块功能性可进行扩展,测试工程师可以选择所需的特性和功能。同时使用VTI公司软硬件进行集成,可提供最为广泛和灵活的数据测量、分析和控制解决方案。
最新升级亮点
  • 支持Windows8操作系统。
  • 增加了Shape和XY Browsers功能,允许快速显示函数和振型。XY Browsers允许对所加载函数的子集进行选择,提供了完全的过滤功能。此两种工具均支持将动态显示拷贝、粘贴至MS Office文件中,安装免费览器后,可在任意系统上对此动态显示进行处理。
  • 增强的前端仿真器,支持对正弦和随机输入的信号进行仿真,也支持对使用时间历程的文件数据进行仿真。如果通道数少于仿真器要使用的通道数,那么时间历程文件中的单个输入通道会映像成多个通道。这样可以在不连接前端时,对测试设置进行定义并仿真,以更有效地利用试验时间。
  • 改进了实时监控功能并提高了其性能,增加了布局优化设置,便于宽屏显示器使用。
  • 过载数据的记录。在进行长时间的数据采集时,所有监控模式下的过载数据均可以单通道和单帧为基础进行记录。
主要特点
直观的用户界面
        I-DEAS采用创新的用户界面技术,确保具有丰富功能的软件控件可以智能显示。界面上仅显示所需图标,有鼠标划过时,会弹出描述窗口。图标按照任务不同进行分组,提供了直观丰富的用户体验。无论是专业人员还是初学者,使用I-DEAS软件,均能快速上手并进行测试分析。
完全可定制的用户界面
        Test for I-DEAS提供了可定制的用户界面,工程师可以以最适合其工作的方式使用。图标可随意停靠,或在停靠位置增加新图标,也可以创建整个新菜单和子菜单。所有定制操作可以保存为XML格式文件,对于多测试分析场合,方便多用户进行预设置。
        对于大型复杂测试,用户通常需要进行重复性操作。从更改多个图形颜色到对传感器清单命名,这个过程是单调乏味的且比较耗时。然而,使用Test for I-DEAS,按键和按钮操作可记录在一个宏文件内,有更改操作时,可回放宏文件以进行自动更改,从而大幅节省时间,提高生产力。
高级的后处理特性,易于使用
        使用时间历程数据、实时显示、智能表格和几何显示特性,进行直观的控制和分析。使用Test for I-DEAS软件,可以对大历史时间记录进行查看和分析。系统工程师能够通过单个数据显示来定位事件和测试条件,从而节省时间,也能便于用户快速选择所需数据进行分析。
        滤波选项包括带通、带阻、高通、低通、多通带、有限脉冲响应和重采样。加窗选项包括Hanning narrow,Hanningbroad, 平顶窗和指数衰减(Flattop and ExponentialDecay) 。通过数学运算还可获得汉宁窗, h a n n i n gcomplement,平顶指数窗和力窗。可对时间历程采样率进行修改,创建同样长度但不同采样点的文件。
   

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